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超宽光谱显微分光光度计 TIDAS MSP 400
视频影像和数据的同步采集是该仪器的亮点。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。超宽光谱显微分光光度计TIDAS MSP 400 TIDAS MSP 系统适用范围:- 在透射模式下可以测量
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超宽全光谱物证搜索系统
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J&M TIDAS MSP 800显微分光光度计
概述 TIDAS MSP 400/800 是专为法医科研人员和可以覆盖所有关于透射、反射或荧光的应用而设计,这些都取决于所选择的配置。极化以及紫外光是可选功能,取决于显微镜的配置。 结合
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超宽波段范围紫外可见红外光谱仪
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显微光度计
的关键。 TIDAS J&M MSP400/800是一种附加在显微镜上的分光光度计。它允许用户获取的图像和微观样本地区迅速,并迅速获得的光谱。当添加到适当的显微镜或探针台,TIDAS J&M
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(0.9-25.0μm) 超宽范围红外光谱仪系列
ATP7810是奥谱天成集20年光谱仪研制经验,经过5年的研发,推出的宽波段范围、高分辨率光谱仪,ATP7810通过软件控制进行旋转光栅,进行波长扫描,从而获得高精准的光谱测量结果。
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OEM组件-超宽视场镜筒透镜
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显微光度计
MSP 400 使用J&M的TIDAS MSP 400 你可测量在透射模式下光纤的 VIS 光谱和在反射模式下( 明场和暗场 )光纤与涂料的VIS光谱。光谱仪的波长范围是360
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J&M MSP200 显微分光光度计
J&M TIDAS MSP 200显微分光光度计概述 镜质体反射率测量在钢铁工业用于媒质的测评是一个有用的工具。岩相分析在煤质成因、变质和利用的背景下已得到国际的重视。煤岩相学国际委员会
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J&M MSP200 宽谱显微分光光度计
ISO/DIN 规范 7404和ASTM D2798中,显微镜的准备被描述为测量过程和数据处理与反射比较的标准。通过耦合一个高灵敏度的光谱仪到显微镜检测荧光光谱,其它标准如热蚀变指数(TAI)或孢子的
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